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泰克解鎖SiC功率器件動態測試系統,在美浦森半導體正式交付

2021-08-19 來源:EEWORLD

泰克解鎖SiC功率器件動態測試系統,華南首臺在深圳美浦森半導體正式交付


中國北京2021年8月19日 –日前,泰克在華南地區首臺DPT1000A在深圳美浦森半導體正式交付。DPT1000A功率器件動態參數測試系統由泰克科技領先研發,一經推出就受到廣大科研和企業用戶的強烈關注。


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DPT1000A功率器件動態參數測試系統專門用于三代半導體功率器件的動態特性分析測試,旨在解決客戶在功率器件動態特性表征中常見的疑難問題,包括如何設計高速工作的驅動電路,優化系統寄生參數,如何適配多種芯片封裝形式,如何選擇和連接探頭進行信號測試,如何優化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發設計、失效分析、進廠檢測和試產階段快速評估器件,更快應對市場需求改善產品性能,同時也幫客戶快速驗證自研驅動電路,加速應用端解決方案落地。

 

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美浦森半導體致力于POWER MOSFET及碳化硅產品的研發和生產,是全球頂尖碳化硅MOSFET生產商之一。為解決自研SiC功率器件的測試問題,美浦森半導體投入重金建立專業功率器件測試實驗室。功率器件動態參數測試系統DPT1000A可以有效地解決高速SiC器件在動態開關過程中的特性表征難題,提高測試效率,實現幾十項動態參數的自動化測試。作為全球碳化硅MOSFET領先的生產商,美浦森半導體還致力于推進三代半導體功率器件的研發和普及工作,將內部測試實驗室對外開放,為全國功率器件客戶提供測試環境,幫助全國的用戶共同成長。

   

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DPT1000A系統由功率器件雙脈沖測試驅動板、高壓防護罩、芯片溫控系統、泰克高分辨率示波器、光隔離探頭、雙脈沖信號源、高壓電源和自動化測試軟件組成。以交鑰匙形式交付客戶,可以通過上位機軟件配置測試設備和測試項目,獲取測試結果并生成數據報告。系統具備極高的測試靈活性,可以根據需求定制驅動電路板設計,更改柵極電阻,負載電感等關鍵器件參數。在保證安全的前提下,對功率器件的動態參數進行全面精準的測試評估。同時使用了泰克公司最新推出的新五系高分辨率示波器和專門用于高壓差分信號測試的光隔離探頭,為三代半導體器件動態特性表征帶來更高帶寬和更高測試精度。泰克新五系示波器可以最高支持8通道同時測量,對于半橋結構雙脈沖測試電路,可以同時對上下管信號進行同步測試。


此外,該系統中包含泰克獨有的光隔離探頭TIVP,它提供了極高的共模抑制比,可以在上管測試中提供更準確的波形數據。由于上管在工作狀態中浮地電壓極高,與上管相關的電信號測量在傳統測試中通常非常困難。尤其像幅度較低的柵壓信號,或者通過電流傳感器讀取的上管工作電流,往往疊加在幾百伏到上千伏的高壓信號上,使用高壓差分探頭無法對這類信號進行準確的測量。TIVP光隔離探頭徹底解決了這一問題,在提供高達1GHz測試帶寬的同時,保持80dB~120dB共模抑制比,第一次真實還原出與上管相關的電信號波形。

  

針對系統中高速電流的測試,使用高精度電流傳感器,得到更高的電流測試帶寬和更準確的電流波形。同時系統還提供了動態導通電阻測試功能,可以在高速開關狀態下對器件的動態導通電阻進行評估,幫助客戶更準確的了解器件動態特性。


保證測試過程中儀器設備安全也是DPT1000A在設計過程中重要考慮到的因素。驅動板與示波器探頭被獨立安裝在獨立的安全防護罩內,從物理上進行隔離,以確保高壓大電流工作狀態下偶發故障不會對示波器、信號源和上位機電腦等設備造成損害。另外,由于采用驅動板子板與母板垂直安裝的設計方式,功率器件與示波器探頭可以分布在垂直安置的驅動板子板兩側。當測試過程中即使發生功率器件炸管現象時,不會將探頭等設備損壞,確保客戶財產損失降到最低。


DPT1000A測試系統的驅動電路開發、硬件集成和測試軟件研發工作全部在國內完成,客戶可以在當前基礎上對系統提出定制化需求,滿足更多種類的功率器件測試需求。同時泰克公司也為客戶提供本地化技術支持與服務,以最快的響應速度確保您的測試順利完成。


關于泰克科技


泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創新、精確、操作簡便的測試、測量和監測解決方案,解決各種問題,釋放洞察力,推動創新能力。70多年來,泰克一直走在數字時代前沿。


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